Skip to Menu Skip to Search Напишите нам Russia Выбрать веб-сайт и язык Skip to Content

Сканирующая электронная микроскопия (SEM) и трансмиссионная электронная микроскопия (TEM) — это стандартные методы формирования изображения для проведения анализа полупроводниковых устройств. Они представляют собой важные инструменты в ваших процедурах контроля качества, анализе сбоев, а также в значительной мере применяются при исследованиях и разработках.

Оба метода могут быть применены для изучения вертикальной структуры устройств. Исследования могут проводиться различными способами. Одним из наиболее распространенных является применение сфокусированного пучка ионов (FIB), зачастую совместно с SEM.

SEM и TEM представляют собой одну из специализированных услуг компании SGS. Наш опытный персонал работает с высокопроизводительным оборудованием, обеспечивающим высочайшую детализацию изображения для случаев, когда вам необходимо разрешение, превосходящее возможности оптического микроскопа.

Для большинства аналитических процессов мы используем сканирующую электронную микроскопию (СЭМ, SEM) и трансмиссионную электронную микроскопию (ТЭМ, TEM). К таким задачам относятся:

  • анализ физического отказа;
  • анализ конструкции;
  • обратное проектирование.

Свяжитесь с компанией SGS для получения подробной информации о том, как SEM- и TEM-микроскопия могут стать важным инструментом системы контроля качества вашей продукции.