Skip to Menu Skip to Search Напишите нам Russia Выбрать веб-сайт и язык Skip to Content

Метод рентгеновской дифракции (XRD) обеспечивает эффективную идентификацию зернистых материалов, глины и других полезных ископаемых. Он предоставляет подробную информацию о кристаллографической структуре проб, которые могут быть использованы для идентификации имеющихся фаз. Метод рентгеновской дифракции предпочтителен для определения фаз мелкогранулированных частиц, которые сложно идентифицировать с помощью других методов, например, оптической микроскопии, сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектрометрии (SEM/EDS) или количественной оценки материалов посредством сканирующей электронной микроскопии (QEMSCAN™).

Ранее XRD, как правило, использовался для определения массовых минеральных ассоциаций в горных породах, глинах, рудах, твердых частицах и в металлургической продукции. Он предусматривает применение полуколичественного метода определения нормативного или весового процента фаз, включая фракции каждой минеральной фазы в пробах.

Используя метод Ритвельда (RIR-анализ) по определению количественного показателя и мощные компьютеры, можно получить количественные данные рентгеновской дифракции. Современные высокоскоростные детекторы позволяют осуществлять быстрый сбор данных для большого количества проб, а кластерный анализ цельного образца используется для разграничения содержания веществ в образце.

SGS использует порошковые дифрактометры, современное программное обеспечение и обширную базу данных полезных ископаемых для определения экспериментальных дифракционных моделей образцов.

Для стандартного анализа рентгеновской дифракции пробоподготовка выполняется как обычно, а процедура получения данных отличается эффективностью и точностью. Анализ методом рентгеновской дифракции проводится на размельченном образце, что является простым способом получения минералогических данных для химического анализа.

Анализ качественных характеристик методом рентгеновской дифракции

Все фазы, идентифицированные посредством рентгеновской дифракции, отображаются в отчетах и группируются по количеству: основные (>30%), средние (10–30%), малые (2–10%) и рассеянные (<2%). Идентификация и классификация составляющих элементов основываются на относительных высотах максимума и кристаллической структуре минералов.

Полуколичественный анализ методом рентгеновской дифракции

Все минералы, идентифицированные посредством рентгеновской дифракции, отображаются в отчетах и группируются по количеству: основные (>30%), средние (10–30%), малые (2–10%) и рассеянные (<2%). Кроме того, данные о содержании минералов (вес в %), полученные в ходе анализа рентгеновской дифракции полнопрофильным методом Ритвелда, согласовываются с результатами анализа валовой пробы и предоставляются в виде отчета.

Минералогический состав

С помощью рентгеновской дифракции можно определить конкретные твердые фазы в образце. Компания SGS предлагает специализированный анализ минералогического состава для определения:

  • минералогического состава глины;
  • свободного и вдыхаемого диоксида кремния.

Такие системы, как анализ методом рентгеновской дифракции, – это всего лишь инструмент,– результатом применения которого является высокоточный минералогический состав. Компания SGS является лидером в области предоставления данных высококачественного минералогического состава в горнодобывающей индустрии и других секторах рынка по всему миру, которые требуют детальной характеристики свойств материалов, продуктов или остатков. Специалисты по минералогии SGS гарантируют качество предлагаемого продукта и предоставляют достоверные интерпретируемые данные для всех этапов, от начальной разведки до поддержки производственных процессов.